业纳专为自动化应用环境设计了 Opticline CA、AMV 和 WMS 系列光学测量系统。通过智能硬件和软件接口，可以将这些系统灵活无缝地集成到您的自动化生产过程中。我们的系统提供高精密且可靠的测量结果– 即使在恶劣的生产环境下长期操作后，也可以做到这一点。
轴测量系统的测量周期只有几秒，令人印象深刻。这意味着您可以高效检测生产，并减少浪费。这些系统采用多种设计，因此可以水平或垂直装载。我们还针对特别大型和重型的轴提供了特殊的测量系统。如有必要，我们可以针对您的具体需求量身定制我们的系统。
我们的测量和评估软件具有全面的功能，并且提供了用于控制校正值的额外选项，还可以轻松集成在制造过程中。该程序易于理解且易于操作。
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